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      Z3000審計(jì)最終粒度儀
      
  
      
        
      
    
    
      審計(jì)最終粒度儀：專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測(cè)范圍：0.3nm-10.0μm。
      
    
      更新時(shí)間：2026-01-23型號(hào)：Z3000
      
    現(xiàn)在聯(lián)系
  
      

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      A7000 APS大粒子計(jì)數(shù)器
      
  
      
        
      
    
    
      大粒子計(jì)數(shù)器工作原理：單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)（Single Particle Optical Sizing，SPOS）,檢測(cè)范圍：0.5 μm – 400 μm
      
    
      更新時(shí)間：2026-01-23型號(hào)：A7000 APS
      
    現(xiàn)在聯(lián)系
  
      

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      A7000光阻法顆粒計(jì)數(shù)器
      
  
      
        
      
    
    
      光阻法顆粒計(jì)數(shù)器型號(hào)：AccuSizer 780 A7000 APS 全自動(dòng)顆粒計(jì)數(shù)/粒度分析儀，工作原理：單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)（Single Particle Optical Sizing，SPOS）。
      
    
      更新時(shí)間：2026-01-23型號(hào)：A7000
      
    現(xiàn)在聯(lián)系
  
      

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      ZETA電位粒度分析儀
      
  
      
        
      
    
    
      ZETA電位粒度分析儀：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）。
      
    
      更新時(shí)間：2026-01-23型號(hào)：
      
    現(xiàn)在聯(lián)系
  
      

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      高濃度顆粒計(jì)數(shù)
      
  
      
        
      
    
    
      高濃度顆粒計(jì)數(shù)：只需通過鼠標(biāo)的單擊操作，即能幫助用戶在短時(shí)間 內(nèi)完成從進(jìn)樣到檢測(cè)，完成清洗系統(tǒng)的所有操作，使用戶獲得重要的粒徑分布信息。
      
    
      更新時(shí)間：2026-01-23型號(hào)：
      
    現(xiàn)在聯(lián)系
  
      

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