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      激光顆粒計(jì)數(shù)器
      
  
      
        
      
    
    
      激光顆粒計(jì)數(shù)器型號(hào)：AccuSizer 780 A7000 APS 全自動(dòng)顆粒計(jì)數(shù)/粒度分析儀，單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)（Single Particle Optical Sizing，SPOS），檢測范圍： 0.5 μm – 400 μm。
      
    
      更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：
      
    現(xiàn)在聯(lián)系
  
      

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      Nicomp N3000激光納米粒度儀
      
  
      
        
      
    
    
      激光納米粒度儀：專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測范圍：0.3nm-10.0μm。
      
    
      更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：Nicomp N3000
      
    現(xiàn)在聯(lián)系
  
      

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      zeta電位及粒度分析儀
      
  
      
        
      
    
    
      zeta電位及粒度分析儀：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）
      
    
      更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：
      
    現(xiàn)在聯(lián)系
  
      

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      Nicomp Z3000 Zeta粒度及zeta電位分析儀
      
  
      
        
      
    
    
      粒度及zeta電位分析儀工作原理：
粒度檢測： 動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）
Zeta電位檢測：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）
      
    
      更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：Nicomp Z3000 Zeta
      
    現(xiàn)在聯(lián)系
  
      

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      Nicomp Z3000 Zetazeta電位分析儀測粒徑
      
  
      
        
      
    
    
      zeta電位分析儀測粒徑工作原理：
粒度檢測： 動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）
Zeta電位檢測：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）
      
    
      更新時(shí)間：2024-08-26型號(hào)：Nicomp Z3000 Zeta
      
    現(xiàn)在聯(lián)系
  
      

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